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ICE測(cè)試技術(shù)系統(tǒng)及測(cè)試方法一種ICE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法,所述測(cè)試系統(tǒng)包含上位機(jī)和下位機(jī)兩大部分,所述上位機(jī)使用腳本作為測(cè)試系統(tǒng)的中央控制臺(tái),所述下位機(jī)包含:DUT和TB測(cè)試板;所述上位機(jī)和下位機(jī)通過(guò)API接口進(jìn)行通信。本發(fā)明所實(shí)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法,能實(shí)現(xiàn)所有ICE支持型號(hào)的數(shù)字功能測(cè)試,減少測(cè)試人力的投入,很大程度上減少了手動(dòng)操作,大大縮短了測(cè)試流程。并且自動(dòng)化輸出測(cè)試日志,方便測(cè)試人員快速發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,進(jìn)而修復(fù)芯片設(shè)計(jì)。 主權(quán)項(xiàng): 一種ICE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),所述測(cè)試系統(tǒng)包含上位機(jī)和下位機(jī)兩大部分,其特征在于:所述上位機(jī)使用腳本作為測(cè)試系統(tǒng)的中央控制臺(tái),并存放了ICE型號(hào)庫(kù)、程序用例庫(kù)、TB用例庫(kù)、以及測(cè)試用例庫(kù);所述下位機(jī)包含:DUT和TB測(cè)試板,DUT是程序用例的硬件載體,TB充當(dāng)系統(tǒng)的DUT輸入激勵(lì)X的信號(hào)發(fā)生器和DUT輸出結(jié)果Y的信號(hào)測(cè)量?jī)x等測(cè)試組件;所述上位機(jī)和下位機(jī)通過(guò)API接口進(jìn)行通信。 |